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Lohr, Sharon L.

Muestreo : diseño y análisis / Sharon L. Lohr ; traducción por Óscar Alfredo Palmas Velasco - México : Internacional Thomson, 2000 - 480 p. : il. ; 24 cm. + CD-ROM

Bibliografía : p. 445-470

Introducción - Muestras de probabilidad simples - Estimación por razones y por regresión - Muestreo estratificado - Muestreo por conglomerados con probabilidades idénticas - Muestreo con probabilidades diferentes - Encuestas complejas - Ausencia de respuesta - Estimación de la varianza en encuestas complejas - Análisis de datos categóricos en encuestas complejas - Regresión con datos de encuestas complejas - Otros temas de muestreo.

ISBN: 970-686-017-7

Subjects--Topical Terms:
Estadística - Probabilidades-Muestreo

Dewey Class. No.: 519.52/ / L77